AFM原子力显微镜是一种高分辨率的测试技术，其检测材料范围非常广泛。以下是对原子力显微镜检测材料范围的详细归纳：
一、无机材料
半导体材料：如硅、锗等，AFM原子力显微镜可用于检测其表面形貌、晶粒尺寸、缺陷分布等。
金属薄膜：如金、银、铜等金属的薄膜材料，原子力显微镜可用于测量其厚度分布、表面粗糙度等。
氧化物薄膜：如氧化铝、二氧化硅等，AFM原子力显微镜可用于研究其表面形貌、化学组成等。
二、有机材料和聚合物
聚合物薄膜：原子力显微镜可用于研究聚合物薄膜的形貌、相分离现象、机械性能以及吸附行为等。
有机固体：如有机小分子晶体、有机高分子材料等，AFM原子力显微镜可用于检测其表面形貌和物理化学特性。
三、生物样品
生物大分子：如蛋白质、DNA链等，原子力显微镜可用于观察其在聚合物基底上的组装情况，以及测量其表面形貌和力学特性。
细胞和组织：AFM原子力显微镜可用于研究细胞膜、细胞骨架、病毒颗粒等生物结构的表面形貌和力学性质，对于理解细胞功能及疾病机制具有重要意义。
四、复合材料与涂层
复合材料：原子力显微镜可用于分析复合材料中各组分的分布情况以及界面特性。
涂层材料：AFM原子力显微镜可用于评估涂层的质量，如涂层的均匀性、厚度以及与基体材料之间的粘附力等。
五、特殊材料
二维材料：如石墨烯等，原子力显微镜可用于测量其形貌与厚度。
一维纳米结构：如纳米线、纳米管等，AFM原子力显微镜可用于检测其表面特征。
此外，原子力显微镜的检测范围不**于上述材料，还可广泛应用于半导体制造、光学和电子学等领域中的材料和器件的表面形貌和属性检测。例如，可用于检测光学器件的表面形貌和表面属性，以便进行光学特性的优化；还可用于检测电子器件的结构和性能，如晶体管的结构和性能等。
综上所述，AFM原子力显微镜作为一种多功能的测量工具，其应用范围非常广泛，几乎涵盖了所有需要高精度表面形貌分析的领域。随着技术的进步，原子力显微镜的功能也在不断扩展，为科学研究和技术发展提供了强有力的支持。